Agilent
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2022-03-18
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安捷伦科技贸易（上海）有限公司
陈大良
1、高盐进样系统 2、有机加氧系统 3、纳米颗粒物分析软件 4、PFA惰性样品引入工具及惰性进样系统
1、一级四极杆驱动频率2.8-3.0MHz，扫描质量范围2-260amu；二级四极杆驱动频率 3.0MHz，扫描质量范围2-275amu； 2、灵敏度： 低质量数：Li (7) ≥ 200Mcps/ppm； 中质量数：Y(89) ≥ 700Mcps/ppm； 高质量数：Tl(205) ≥ 400Mcps/ppm； 3、检出限： Be（9） ≤ 0.1 ppt； In（115）≤ 0.05 ppt； Bi（209）≤ 0.05 ppt；
| 仪器名称 | 电感耦合等离子体-三重四极杆串联质谱仪 Inductively Coupled Plasma Triple Quadrupole Mass Spectrometer(ICP-MSMS） |
| 规格型号 | 8900 |
| 仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼1262实验室 |
| 仪器功能介绍 | 实现对液体样品中各种金属元素的痕量（ppb或ppt级）的半定量和定量分析 |
| 性能指标 | 1、一级四极杆驱动频率2.8-3.0MHz，扫描质量范围2-260amu；二级四极杆驱动频率 3.0MHz，扫描质量范围2-275amu； 2、灵敏度： 低质量数：Li (7) ≥ 200Mcps/ppm； 中质量数：Y(89) ≥ 700Mcps/ppm； 高质量数：Tl(205) ≥ 400Mcps/ppm； 3、检出限： Be（9） ≤ 0.1 ppt； In（115） ≤ 0.05 ppt； Bi（209） ≤ 0.05 ppt； |
| 样品要求 | 1、样品应为澄清溶液,呈酸性或者中性，待测元素含量为ppb级别或者ppt级别浓度，溶液体 积不少于4mL； 2、样品基质应尽可能简单，避免高含量的盐类带来的元素的污染，若样品含有氢氟酸或者 基质为有机试剂，请一定注明并与平台联系更换进样系统及使用有机加氧设备； 3、因仪器放置于千级洁净室内，未授权人员不得随意入内，若样品需测试元素浓度较低 （ppt级），样品前处理及送样过程中应尽量避免外界引入（如K、Na等常见元素）， 而 造成测试结果不准确。 |
| 仪器说明 | 1、配备有两个四极杆质量过滤器对离子进行两次过滤，并采用氢气、氧气、氨氦混合气等多 种反应气，可以消除同量异位素干扰、双电荷离子干扰、相邻质量数重叠干扰以及高强度 的多原子干扰； 2、有Cool plasma冷焰模式，容易受污染的元素背景下降，可对轻元素Li, Na, Mg, Al, K, Ca等获 得极低的检测下限； 3、配备高盐进样系统：将基质耐受性提高到25%的总溶解态固体，保证接口区域和质谱区域 不受高基体污染； 4、配备惰性进样系统及耐酸阀系统：包括PFA雾化器、PFA雾化室、PFA矩管及连接管、蓝 宝石中心管及其他必要整套惰性进样系统组件，可耐受磷酸、硫酸、氢氟酸的长期分析。 |
1、样品应为澄清溶液,呈酸性或者中性，待测元素含量为ppb级别或者ppt级别浓度，溶液体 积不少于4mL；
2、样品基质应尽可能简单，避免高含量的盐类带来的元素的污染，若样品含有氢氟酸或者基质为有机试剂，请一定注明并与平台联系更换进样系统及使用有机加氧设备；
3、因仪器放置于千级真空室内，未授权人员不得随意入内，若样品需测试元素浓度较低ppt级），样品前处理及送样过程中应尽量避免外界引入（如K、Na等常见元素）， 而造成测试结果不准确。
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