日本电子株式会社
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2021-07-06
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捷欧路（北京）科贸有限公司
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1. 冷场发射电子枪（CFEG）2. JEOL十二极子球差校正器（物镜/聚光镜）3. 八分割环形全场探测器 4. 超级双能谱仪（EDS）5. Oneview相机 6. GIF-K3相机 7. 4D-STEM
1. 合轴电压：300/200/80/60kV; 2. 分辨率：STEM: 59pm@300kV, 82pm@200kV, 111pm@80kV, 136pm@60kV, TEM: 70pm@300kV, 80pm@200kV, 100pm@80kV, 100pm@60kV; 3. 双能谱仪探测器总面积：316mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka); 4. 一体化EELS-GIF, EELS能量分辨率≤0.4eV;
仪器名称 | 双球差校正透射电子显微镜 |
| 规格型号 | JEOL JEM-ARM300F2 |
| 仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼无噪声实验室1050 |
| 仪器功能介绍 | 材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析 材料原子结构及成分分析（重、轻原子） 材料电子结构分析 三维结构分析 多相多场（热/电）原位实验，低温冷冻实验 |
| 性能指标 | 1. 冷场发射电子枪，电子束能量分辨率＜0.35eV（300kV，束流：30pA） 2. STEM分辨率： 59pm@300kV, TEM分辨率：70pm@300kV 3. 双能谱仪探测器总面积：316mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka) 4. 双EELS探测系统，EELS能量分辨率≤0.4eV; 5. Oneview相机读写最大读写速度：300fps@512*512 6. K3相机1500 帧全幅读出 |
| 样品要求 | 1. 球差电镜拍摄的样品提前和管理员沟通确认，并通过普通透射电镜初步筛选； 2.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用超薄碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）； 3.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm； 4.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水； 5.含有Fe, Co, Ni, Mn等元素的磁性粉末样品禁止直接进电镜； 6. 不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品； |
| 仪器说明 | 1. SAAF-OBF系统，可实现低剂量模式下电子束敏感材料轻重元素同时高分辨成像； 2. 搭配原位样品杆，可进行原位TEM/STEM实验； 3. 4D-STEM可收集4D-STEM数据及后期创建包括BF，ABF, LAADF, HAADF, DPC图像 |
样品要求：
（1）球差电镜拍摄对样品要求较高，需要先通过普通透射电镜筛选确认，若要拍摄原子级图像或EELS，样品厚度越薄越好（建议在20nm以下）；
（2）粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）；
（3）块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm；
（4）样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水；
（5）含有Fe, Co, Ni, Mn等元素的磁性粉末样品禁止直接进电镜；
（6）不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品；
（7）如有样品问题，请联系管理员沟通确认；
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09:00-12:00;14:00-17:30
0.5 小时
12 小时
0.5 小时
未授权用户: 0小时； 普通资格用户: 0小时； 资深资格用户: 0小时
未授权: 720 小时 0 点； 普通: 720 小时 0 点； 资深: 720 小时 0 点
30 分钟
30 分钟
30 秒
5 秒
120 秒
5 次/天
1440 分钟
| 用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
|---|---|---|
| 未授权资格 | ||
| 普通资格 | ||
| 资深资格 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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| 1 | 球差电镜测试委托单 | 1 | 2023-11-08 18:12:20 | 文件下载 |
待审核
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| 序号 | 标题 | 链接 | 操作 |
|---|
