日本电子株式会社
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2022-06-29
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捷欧路（北京）科贸有限公司
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1. 电子枪为LaB6灯丝 2. 牛津能谱仪（EDS）3. 高速高分辨CMOS相机
1. 合轴电压：200kV; 2. 分辨率：200kV下TEM点分辨率: 0.23 nm，线分辨率: 0.14 nm; 3. 能谱仪探测器面积：80mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka);
仪器名称 | 透射电子显微镜 |
| 规格型号 | JEOL JEM-2100plus |
| 仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼1162-1实验室 |
| 仪器功能介绍 | 材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析 多相多场（气/液）原位实验，低温冷冻实验 |
| 性能指标 | 1.LaB6灯丝电子枪 2. 200kV下TEM点分辨率: 0.23 nm，线分辨率: 0.14 nm; 3. 能谱仪探测器面积：80mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka) 4. 相机图像采集最大帧率30 fps |
| 样品要求 | 1.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）； 2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm； 3.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水； 4.不接磁性样品，如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质； 5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品； |
| 仪器说明 | 1. TEM模式下可进行选区电子衍射、高分辨拍照及分析； 2. 能谱具有点扫功能；（注：本设备不具备元素mapping功能） |
仪器功能应用
1、TEM模式下形貌、高分辨像
图1.多晶金标样低倍形貌像
图2.多晶金标样高分辨晶格像
2、选区电子衍射
图3.单晶硅选区电子衍射图
图4.多晶金选区电子衍射图
3、能谱点分析
图5.能谱点分析谱图
送样要求：
1.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）；
注：粉末样品分散在乙醇中，制样浓度不要太浓，溶液略微浑浊，超声分散1-3min即可滴样。
2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm；
3.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水；
4.不接磁性样品，如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质；
5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品；
委托测试机时：每周二、周四上午工作时间，有自主测试权限的同学，请不要占用委托机时。
仪器功能：TEM模式下可采集形貌像、高分辨晶格像、选区电子衍射；能谱点分析
（注：本设备未配备STEM模式，无法采集BF、DF、HAADF像，无法做元素mapping和线扫，需要实现上述STEM功能，请预约F200场发射透射电镜）
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09:00-12:00
0.5 小时
4 小时
0.5 小时
未授权用户: 0小时； 普通资格用户: 0小时； 资深资格用户: 0小时
未授权: 7 天 21 点； 普通: 7 天 21 点； 资深: 14 天 21 点
30 分钟
30 分钟
30 秒
5 秒
120 秒
2 次/天
1440 分钟
| 用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
|---|---|---|
| 未授权资格 | ||
| 普通资格 | ||
| 资深资格 |
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