日本电子株式会社
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2022-06-29
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捷欧路(北京)科贸有限公司
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1. 电子枪为LaB6灯丝 2. 牛津能谱仪(EDS)3. 高速高分辨CMOS相机
1. 合轴电压:200kV; 2. 分辨率:200kV下TEM点分辨率: 0.23 nm,线分辨率: 0.14 nm; 3. 能谱仪探测器面积:80mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka);
仪器名称 | 透射电子显微镜 |
规格型号 | JEOL JEM-2100plus |
仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼1162-1实验室 |
仪器功能介绍 | 材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析 多相多场(气/液)原位实验,低温冷冻实验 |
性能指标 | 1.LaB6灯丝电子枪 2. 200kV下TEM点分辨率: 0.23 nm,线分辨率: 0.14 nm; 3. 能谱仪探测器面积:80mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka) 4. 相机图像采集最大帧率30 fps |
样品要求 | 1.粉末样品粒径小于1um,厚度小于100nm,可分散在3mm载网上(纳米颗粒使用碳膜载网,一维或二维纳米材料使用微栅载网); 2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束(FIB)、超薄切片等方法制备,厚度小于50nm,样品直径3mm; 3.样品干燥(建议真空烘干),不含结晶水; 4.不接磁性样品,如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质; 5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华(单质硫、碘等)、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品; |
仪器说明 | 1. TEM模式下可进行选区电子衍射、高分辨拍照及分析; 2. 能谱具有点扫功能; |
仪器功能应用
1、TEM模式下形貌、高分辨像
图1.多晶金标样低倍形貌像
图2.多晶金标样高分辨晶格像
2、选区电子衍射
图3.单晶硅选区电子衍射图
图4.多晶金选区电子衍射图
3、能谱点分析
图5.能谱点分析谱图
送样要求:
1.粉末样品粒径小于1um,厚度小于100nm,可分散在3mm载网上(纳米颗粒使用碳膜载网,一维或二维纳米材料使用微栅载网);
2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束(FIB)、超薄切片等方法制备,厚度小于50nm,样品直径3mm;
3.样品干燥(建议真空烘干),不含结晶水;
4.不接磁性样品,如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质;
5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华(单质硫、碘等)、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品;
委托测试机时:每周二、周四工作时间
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09:00-12:00;14:00-17:30
0.5 小时
4 小时
0.5 小时
未授权用户: 0小时; 普通资格用户: 0小时; 资深资格用户: 0小时
未授权: 7 天 21 点; 普通: 7 天 21 点; 资深: 14 天 21 点
30 分钟
30 分钟
30 秒
5 秒
120 秒
1 次/天
1440 分钟
用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
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未授权资格 | ||
普通资格 | ||
资深资格 |
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