Lake Shore Cryotronics,Inc
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2019-11-19
美国
厦门欣恒艺科技有限公司
朱梦思
分子泵组、RG0206循环冷却水机、压缩机、336四通道控温仪
温度范围：6.5K-350K；控温精度：100mK；漏电流<100fA;显微镜分辨率：优于4μm；真空指标：<5*E-5 Torr；最大样品尺寸：1.25英寸
| 仪器名称 | 半导体器件测试探针台 Probe station for semiconductor device measurement |
| 规格型号 | Lake Shore CRX-6.5K |
| 仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼洁净室 |
| 仪器功能介绍 | 半导体器件测试探针台可以进行基础的电学测试，测试场效应晶体管的饱和漏电流、夹断电压、开启电压、低频跨导等场效应管的重要参数；该设备还可以完成光电探测器方面的测试，特定的探针臂带有可调波长及可调光功率的光纤，可以测试样品在不同光功率下的转移曲线和传输曲线；该设备同时可以进行在低温及高温的变化温度下对样品的分析测试，低温下测试的样品可以减小热扰动对于测试结果带来的不准确性。 |
| 性能指标 | 1.温度范围：10K-350K； 2.控温稳定性：优于±100mk； 3.光分辨率：优于4μm； 4.探针臂的可三维移动 X方向不小于51mm Y方向不小于25mm Z方向不小于18mm 5.漏电流：<100fA |
| 样品要求 | 尺寸不超过30mm的器件 |
| 仪器说明 | 主机系统配了5根电学测试探针臂，供操作者在低温测试的环境下获取测试器件的电学IV，CV性能，一根光学探测探针臂，同时可测量器件的光电性能。此外，该设备与半导体参数仪联用，可直接用半导体分析仪控制半导体器件测试探针台的温度，可对制得器件的电学性质进行表征和测试分析。 |
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06:00-22:00
0.5 小时
168 小时
0.5 小时
未授权用户: 1小时； 普通资格用户: 0.5小时； 资深资格用户: 0小时
未授权: 168 小时 0 点； 普通: 168 小时 0 点； 资深: 168 小时 0 点
15 分钟
15 分钟
30 秒
5 秒
120 秒
5 次/天
1440 分钟
| 用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
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| 未授权资格 | ||
| 普通资格 | ||
| 资深资格 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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待审核
预约有效
预约完成
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预约被占用
| 序号 | 标题 | 链接 | 操作 |
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| 1 | Conjugated Phosphonic Acids Enable Robust Hole Transport Layers for Efficient and Intrinsically Stable Perovskite Solar Cells | https://doi.org/10.1002/adma.202308969 | 详情 |
| 2 | Light Soaking Induced Halide Doping of Evaporated Spiro-OMeTAD in Perovskite Solar Cells | https://mp.weixin.qq.com/s/tb8evfCYc8Qo5_VRLA0IVw；https://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1002/lpor.202200475 | 详情 |
