嘉庚创新实验室2100Plus透射电镜开放使用通知

  嘉庚创新实验室热发射透射电子显微镜（JEOL JEM-2100Plus）已完成装机调试（图1），仪器安装于厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼1162-1实验室，现已启用，用户可在网站预约使用。

  透射电子显微镜（TEM）因具有较高分辨率，较好的微区分析能力，被广泛用于金属材料、半导体材料、有机复合材料等形貌拍摄和结构表征。

  2100Plus的最大加速电压200kV，灯丝类型：LaB6，极靴类型：HR极靴，TEM点分辨率：0.23nm;线分辨率：0.14nm。配备JEOL Flash相机，最高像素数2048×2048，配有牛津Xplore TEM:UVA12870特征X射线能谱探测器，可用于元素的定性及半定量分析。该设备可用于材料的形貌拍摄：可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息；结构表征：高分辨晶格条纹像，选区电子衍射；成分分析：可对样品进行能谱点扫。既可以作为常规测试使用，也可作为场发射透射电镜或球差透射电镜的前端样品筛选使用。

图1 2100Plus透射电镜实物图