嘉庚创新实验室F200场发射透射电子显微镜开放使用通知

嘉庚创新实验室场发射透射电子显微镜（JEOL JEM-F200）已完成装机调试，安装于厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼1162-2实验室，现已开放使用。

JEOL JEM-F200为肖特基热场发射电子枪，HR极靴，主要参数：1. 合轴电压：200/80kV; 2. 分辨率：STEM: 0.14nm@200kV, 0.31nm@80kV, TEM: 0.10nm@200kV，0.14nm@80kV; 3. 双能谱仪探测器总面积：200mm², EDS能量分辨率≤133eV (Mn-Ka)；4. Rio相机读写最大读写速度：160fps@1024*1024；

仪器主要功能：1. TEM模式下获得材料的微区形貌、高分辨晶格条纹像，选区电子衍射；2. STEM模式下获得BF、DF、HAADF等图像，结合EDS可进行点、线、面扫描能谱分析；3. 搭配冷冻或原位样品台，可实现低温，原位气/液/电/热TEM/STEM实验；4. 4D-STEM可收集4D-STEM数据及后期创建包括BF、ABF、LAADF、HAADF等图像。

    F200可用于锂电池材料、氢能相关催化剂、钙钛矿、二维材料、半导体器件、金属及高分子材料等领域的研究，既可作为常规测试使用，也可为球差电镜进行前端样品筛选。

图1 JEOL JEM-F200场发射透射电子显微镜