日本电子株式会社
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2021-07-06
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捷欧路（北京）科贸有限公司
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1. 热发射电子枪 2. 超级双能谱仪（EDS）3. Rio相机 4. 4D-STEM
1. 合轴电压：200/80kV; 2. 分辨率：STEM: 0.14nm@200kV, 0.31nm@80kV, TEM: 0.10nm@200kV，0.14nm@80kV; 3. 双能谱仪探测器总面积：200mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka);
仪器名称 | 场发射透射电子显微镜F200 |
| 规格型号 | JEOL JEM-F200 |
| 仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼1162-2实验室 |
| 仪器功能介绍 | 材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析 多相多场（气/液）原位实验，低温冷冻实验 |
| 性能指标 | 1.肖特基发射电子枪，束斑电流：2.5nA@1nm 2. STEM分辨率： 0.14nm@200kV, TEM分辨率：0.10nm@200kV 3. 双能谱仪探测器总面积：200mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka) 4. Rio相机读写最大读写速度：160fps@1024*1024 |
| 样品要求 | 1.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）； 2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm； 3.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水； 4.不接磁性样品，如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质； 5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品； |
| 仪器说明 | 1. STEM模式下可获得BF、DF、HAADF等图像，结合EDS可进行点、线、面扫描能谱分析； 2. 搭配冷冻或原位样品台，可实现低温，原位气/液/电/热TEM/STEM实验； 3. 4D-STEM可收集4D-STEM数据及后期创建包括BF，ABF, LAADF, HAADF, DPC图像 |
仪器功能应用
1、TEM模式下形貌、高分辨像
图1.多晶金标样低倍形貌像
图2.材料界面处高分辨晶格条纹像
2、选区电子衍射
图3.单晶硅选区电子衍射图
3、STEM模式-高角环形暗场像（HAADF）
图4.高角环形暗场像HAADF-MOL材料
4、STEM模式环形明场箱ABF
图5.环形明场像ABF-钛酸锶
5、能谱元素分析-元素mapping
图6.负载在Ti基体的贵金属催化剂
送样要求：
1.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）；
注：粉末样品分散在乙醇中，制样浓度不要太浓，溶液略微浑浊，超声分散1-3min即可滴样。
2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm；
3.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水；
4.不接磁性样品，如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质；
5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品；
仪器功能： TEM模式下可获得形貌像、高分辨晶格像、选区电子衍射图像。STEM模式下可获得BF、DF、HAADF等图像，结合EDS可进行点、线、面扫描能谱分析；
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09:00-12:00;14:00-17:30
0.5 小时
8 小时
0.5 小时
未授权用户: 0小时； 普通资格用户: 0小时； 资深资格用户: 0小时
未授权: 7 天 21 点； 普通: 7 天 21 点； 资深: 20 天 21 点
30 分钟
30 分钟
30 秒
5 秒
120 秒
1 次/天
1440 分钟
| 用户资格 | 工作时间 | 非工作时间 |
|---|---|---|
| 未授权资格 | ||
| 普通资格 | ||
| 资深资格 |
| 序号 | 标题 | 文件数量 | 添加时间 | 操作 |
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| 1 | F200场发射透射电镜功能简介 | 2 | 2023-09-20 13:08:42 | 文件下载 |
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