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光谱椭偏仪成果展示

创建时间：2024-03-11 15:30:51

多角度测量反射率

不同入射角测量反射率.jpg

2.测量光学常数

光学常数.jpg

3.单点测量薄膜厚度或多点测量片内薄膜厚度分布，生成二维厚度分布图

TiO2均匀性.jpg

友情链接: 厦门大学; 嘉庚创新实验室; 厦门大学实验室与设备管理处; 厦门大学石墨烯工程与产业研究院; 厦门大学化学化工学院; 固体表面物理化学国家重点实验室（厦门大学）

联系我们: 联系电话: 0592-2882511/0592-2882512; 电子邮箱: ikkem-emo@xmu.edu.cn; 联系地址: 厦门市翔安区翔安南路厦门大学翔安校区能源材料大楼

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