飞行时间二次离子质谱仪（TOF SIMS）

飞行时间二次离子质谱仪（TOF SIMS）

  • 仪器分类 谱学分析平台
  • 仪器状态 （洪宇浩）
  • 所属单位 厦门大学 > 石墨烯工程与产业研究院
  • 仪器生产商 IONTOF
  • 购置日期 2021-01-05
  • 使用模式 项目委托
  • 规格型号 M6
  • 放置房间号 1154

使用指南

  • 暂无数据

FAQ

  • 暂无数据

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