仪器名称 | 双球差校正透射电子显微镜 |
| 规格型号 | JEOL JEM-ARM300F2 |
| 仪器放置位置 | 厦门大学翔安校区能源材料大楼1号楼无噪声实验室1050 |
| 仪器功能介绍 | 材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析 材料原子结构及成分分析（重、轻原子） 材料电子结构分析 三维结构分析 多相多场（热/电）原位实验，低温冷冻实验 |
| 性能指标 | 1. 冷场发射电子枪，电子束能量分辨率＜0.35eV（300kV，束流：30pA） 2. STEM分辨率： 59pm@300kV, TEM分辨率：70pm@300kV 3. 双能谱仪探测器总面积：316mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka) 4. 双EELS探测系统，EELS能量分辨率≤0.4eV; 5. Oneview相机读写最大读写速度：300fps@512*512 6. K3相机1500 帧全幅读出 |
| 样品要求 | 1. 球差电镜拍摄的样品提前和管理员沟通确认，并通过普通透射电镜初步筛选； 2.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用超薄碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）； 3.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm； 4.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水； 5.含有Fe, Co, Ni, Mn等元素的磁性粉末样品禁止直接进电镜； 6. 不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品； |
| 仪器说明 | 1. SAAF-OBF系统，可实现低剂量模式下电子束敏感材料轻重元素同时高分辨成像； 2. 搭配原位样品杆，可进行原位TEM/STEM实验； 3. 4D-STEM可收集4D-STEM数据及后期创建包括BF，ABF, LAADF, HAADF, DPC图像 该设备型号为JEM-ARM300F2，是日本电子株式会社（Jeol）的产品，JEM-ARM300F2采用高稳定性的冷场发射技术，在300kv时stem模式的分辨率可达到59pm。除了原子分辨率，结合能谱仪（EDS）和电子能量损失谱仪（EELS）还可以进行原子尺度的成分分析。 The JEM-ARM300F2 is a product of Jeol. The JEM-ARM300F2 utilizes a highly stable cold field emission technology with a resolution of 59 pm in STEM at 300 kV. In addition to atomic resolution, the combination of energy spectrometry (EDS) and electron energy loss spectrometry (EELS) allows for the analysis of components on an atomic scale compositional analysis. |
