材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析

多相多场（气/液）原位实验，低温冷冻实验

1.肖特基发射电子枪，束斑电流：2.5nA@1nm

2. STEM分辨率： 0.14nm@200kV, TEM分辨率：0.10nm@200kV

3. 双能谱仪探测器总面积：200mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka)

4. Rio相机读写最大读写速度：160fps@1024*1024

1.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）；

2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm；

3.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水；

4.不接磁性样品，如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质；

5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品；

1. STEM模式下可获得BF、DF、HAADF等图像，结合EDS可进行点、线、面扫描能谱分析；

2. 搭配冷冻或原位样品台，可实现低温，原位气/液/电/热TEM/STEM实验；

3. 4D-STEM可收集4D-STEM数据及后期创建包括BF，ABF, LAADF, HAADF, DPC图像

JEOL JEM-F200透射电镜  加速电压200kV  超级双能谱仪系统

JEOL JEM-F200 transmission electron microscope operated 200kV ,Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS）was carried out using 2 in-column Super-X detectors