材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析

多相多场（气/液）原位实验，低温冷冻实验

1.LaB6灯丝电子枪

2. 200kV下TEM点分辨率: 0.23 nm，线分辨率: 0.14 nm;

3. 能谱仪探测器面积：80mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka)

4. 相机图像采集最大帧率30 fps

1.粉末样品粒径小于1um，厚度小于100nm，可分散在3mm载网上（纳米颗粒使用碳膜载网，一维或二维纳米材料使用微栅载网）；

2.块体或薄膜样品根据实际需求选用电解双喷、离子减薄、聚焦离子束（FIB)、超薄切片等方法制备，厚度小于50nm，样品直径3mm；

3.样品干燥（建议真空烘干），不含结晶水；

4.不接磁性样品，如含有Fe, Co, Ni, Mn等磁性物质；

5.不接受放射性、腐蚀性、有毒、易挥发、易升华（单质硫、碘等）、易燃易爆、不符合生物安全标准、电子束辐照后不稳定等类似样品；

1. TEM模式下可进行选区电子衍射、高分辨拍照及分析；

2. 能谱具有点扫功能；（注：本设备不具备元素mapping功能）

JEOL JEM-2100Plus透射电镜  加速电压200kV  配备Xplore TEM 牛津能谱

JEOL JEM-2100Plus transmission electron microscope operated 200kV ,Xplore TEM Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS）